有機(jī)電致發(fā)光(OEL)FPD器件正在快速走向商業(yè)化，其中包括有源和無源產(chǎn)品。

目前，人們正在開發(fā)各種基于大分子聚合物的發(fā)光聚合體(LEP)器件。該技術(shù)由英國(guó)劍橋大學(xué)Burroughes等人發(fā)明，目前正在不斷向小尺寸和低速度/分辨率領(lǐng)域邁進(jìn)，如蜂窩電話、數(shù)碼“墨水和紙張”、織品、問候卡、window/POP廣告裝置等。

就目前公布的資料，聚合體顯示器的優(yōu)勢(shì)在于其快速旋轉(zhuǎn)玻璃基體上的功能層的能力，并且在某些情況下，還可以在膠片上印刷圖案，因此從理論上講很容易實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、低成本的有源點(diǎn)陣顯示器，以及(比較高的成本時(shí))較高清晰度的顯示器。其中，后者帶有由各種不同的發(fā)射器組成細(xì)微斑紋，用以顯示全色彩圖像。

OLED器件基于柯達(dá)（Kodak）公司的小分子技術(shù)，能兼容大多數(shù)半導(dǎo)體工藝，但是其制造過程比LEP復(fù)雜得多。然而，他們卻是高數(shù)據(jù)內(nèi)容和視頻寬帶顯示領(lǐng)域的領(lǐng)先者，如監(jiān)視器和電視等。在這些應(yīng)用中，幾乎可以確定地說，他們將會(huì)推倒基于矽技術(shù)的LCD的主導(dǎo)地位，因?yàn)槟壳昂芏嘌芯繖C(jī)構(gòu)和新興公司正在著手這方面的工作。(到目前為止，還沒有人能夠成功地將無機(jī)LED陣列整合到一個(gè)新的密度水平——與有源點(diǎn)陣OLED顯示器可能達(dá)到的密度一樣高。)

材料的壽命仍然是限制OEL FPD技術(shù)推廣應(yīng)用的一個(gè)關(guān)鍵因素，因此研發(fā)測(cè)試的重點(diǎn)應(yīng)該集中在對(duì)以下項(xiàng)目的評(píng)估：材料、工藝，以及器件的光輸出量與工作壽命之間的關(guān)系。這樣的系統(tǒng)目前已經(jīng)有所需求，因?yàn)樵诩磳砼R的產(chǎn)品和工藝開發(fā)過程中，只要對(duì)其進(jìn)行較小的修正，就可以用來對(duì)顯示器件的特性進(jìn)行分析，以檢測(cè)實(shí)施中的工藝，幫助制造商提升產(chǎn)量和質(zhì)量曲線。

要開發(fā)用于OLED應(yīng)用的這類系統(tǒng)，可以如通過Keithley的儀器級(jí)解決方案，如同時(shí)具有精密電流和電壓測(cè)量能力的SourceMeter系列電流源表和電壓源表。此外，這些核心層I-V工具可提供系統(tǒng)級(jí)兼容性，兼容其他儀器和高密度開關(guān)系統(tǒng)，如2000系列DMM、7000系列開關(guān)主機(jī)架，以及2700系列集成化數(shù)據(jù)記錄儀。這些儀器可組合到多種多樣的配置中，以創(chuàng)建手動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)壽命、I-V、光-電流-電壓(LIV)性能進(jìn)行評(píng)估和檢測(cè)。

與OLED測(cè)試有關(guān)的問題之一是，這些結(jié)構(gòu)中的電容值比較高。雖然許多必須的測(cè)量項(xiàng)目與AMLCD器件相同，但是測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)量方法必須能夠在不過分增加測(cè)試時(shí)間的情況下，處理比較高的電容值。另外，如果OEL FPD的像素是有源發(fā)光器件，那么同時(shí)在DC和脈沖DC操作環(huán)境下對(duì)LIV性能進(jìn)行描述是相當(dāng)重要的，這就帶來了額外的測(cè)試復(fù)雜性。

面向OLED和LEP領(lǐng)域的研究人員和工藝開發(fā)工程師，Keithley通過整合自己在傳統(tǒng)半導(dǎo)體和特種激光二極管測(cè)試方面的經(jīng)驗(yàn)，開發(fā)了I-V和LIV特性測(cè)試儀器和分析系統(tǒng)。為了滿足新興生產(chǎn)系統(tǒng)方面的電氣測(cè)試需求，Keithley量身定做的儀器和系統(tǒng)平臺(tái)不但適合先進(jìn)器件的測(cè)量，同時(shí)還滿足大測(cè)試產(chǎn)量和緊密集成的功能性測(cè)試系統(tǒng)的要求。

通過優(yōu)化2400系列和2500 SourceMeter I-V系列以及LIV特性分析系統(tǒng)的能力，并將他們與高密度開關(guān)系統(tǒng)組合，Keithley提供范圍為數(shù)十至數(shù)百個(gè)通道的測(cè)試解決方案。這樣，通過與客戶密切合作，就可以為原型設(shè)計(jì)或大量生產(chǎn)系統(tǒng)，創(chuàng)建具有豐富的專有性能和價(jià)格范圍的排/列I/O。

作者：Charles Cimino and David Rose。進(jìn)一步信息，請(qǐng)參考美國(guó)吉時(shí)利儀器公司（Keithley Instruments, Inc.）技術(shù)白皮書《New Test Realities for Evolving FPD Technologies》，網(wǎng)址為http://www.keithley.com/data?asset=10558。