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SJ/Z 11352-2006:集成電路IP核測(cè)試數(shù)據(jù)交換格式和準(zhǔn)則規(guī)范
2007/2/10 11:38:31    產(chǎn)通學(xué)院,365PR

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):  SJ/Z 11352-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱:  集成電路IP核測(cè)試數(shù)據(jù)交換格式和準(zhǔn)則規(guī)范
英文名稱:  Integrated circuit IP core test data interchange formats and guidelines specification
國(guó)際分類:  ICS 31.200
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類:  L56
發(fā)布日期:  26/09/2006
實(shí)施日期:  01/12/2006
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  有效
替代標(biāo)準(zhǔn):   
摘要:  本規(guī)范為集成電路IP核(Intellectual Property Core,以下簡(jiǎn)稱為IP)的提供者制定了測(cè)試數(shù)據(jù)交換格式和可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT,Design-for-Test)指導(dǎo)原則。制定本規(guī)范的目的是定義IP提供者和IP集成方之間傳遞信息的格式和性質(zhì)。此外,本規(guī)范還為IP提供者制定了一些指導(dǎo)原則,以確保IP能用于系統(tǒng)芯片的設(shè)計(jì)。數(shù)據(jù)格式的適用范圍涵蓋了集成電路中IP創(chuàng)建、定義、交換和集成的描述。

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