歐盟2006年發(fā)布的半導(dǎo)體芯片最新標準，以下內(nèi)容依次為標準號、英文標題、中文標題、技術(shù)機構(gòu)、出版日期：
 
EN 61788-7:2006
 Superconductivity -- Part 7: Electronic characteristic measurements - Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
 超導(dǎo)電性  -  －第7部分：電子特性測量  -  微波頻率下超導(dǎo)體的表面電阻
 CLC/SR 90
 2006-12-12

EN 61788-10:2006
 Superconductivity -- Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method
 超導(dǎo)電性---第10部分：臨界溫度的測定---化合物超導(dǎo)體的臨界溫度，電阻法
 CLC/SR 90
 2006-10-18
 
EN 60749-35:2006
 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
 半導(dǎo)體器件---機械和氣候試驗方法---第35部分：塑封電子元器件的聲學(xué)顯微鏡檢驗方法
 CLC/SR 47
 2006-09-20
 
EN 62047-2:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
 半導(dǎo)體器件---微型機電器件---第2部分：薄膜試驗材料的張力試驗方法。
 CLC/SR 47
 2006-09-20
 
EN 62047-3:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
 半導(dǎo)體器件---微型機電器件---第3部分：張力試驗的薄膜標準試驗
 CLC/SR 47
 2006-09-20

EN 62258-5:2006
 Semiconductor die products -- Part 5: Requirements for information concerning electrical simulation
 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品---第5部分：電氣模擬信息要求
 CLC/BTTF 97-1
 2006-09-15

EN 62258-6:2006
 Semiconductor die products -- Part 6: Requirements for information concerning thermal simulation
 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品---第6部分：熱模擬信息要求
 CLC/BTTF 97-1
 2006-09-15

EN 61747-3:2006
 Liquid crystal display devices -- Part 3: Liquid crystal diplay (LCD) cells - Sectional specification
 液晶顯示器---第3部分：液晶顯示器(LCD)電池---分規(guī)范
 CLC/SR 110
 2006-09-29

EN 62384:2006
 DC or AC supplied electronic control gear for LED modules - Performance requirements
 LED模塊的DC 或 AC供電控制---性能要求
 CLC/TC 34Z
 2006-09-27

EN 62047-1:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
 半導(dǎo)體器件---微電機器件---第1部分：術(shù)語和定義
 CLC/SR 47
 2006-06-16

EN62132-4: 2006
 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz -- Part 4: Direct RF power injection method
 集成電路—抗150kH至1GHz電磁干擾的測量---第4部分：直接RF功率發(fā)射方法
 CLC/SR 47A
 2006-05-19

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