 產(chǎn)品分類 |
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| 產(chǎn)品名稱：DIP封裝集成電路老化測試座 |
| 產(chǎn)品品牌： |
| 產(chǎn)品型號： |
| 參考價格：￥0 |
| 瀏覽人數(shù)：1039 |
| 發(fā)布日期：2011/9/30 17:08:40 |
| 聯(lián)系賣方：揚(yáng)州市廣陵區(qū)鴻騰電器廠 |
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| 產(chǎn)品簡介 |
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| DIP封裝集成電路老化測試座該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
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| 產(chǎn)品說明 |
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DIP封裝集成電路老化測試座
該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
產(chǎn)品型號及規(guī)格；
IC-8J、14J、14G、16J、18J、18J（K）、20J、22G、24J、24Z、28J、40J、64G.
主要技術(shù)指標(biāo)；
間距；2.54mm 環(huán)境溫度；-55℃—+155℃
接觸電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V
單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；1um鎳3um金
插拔壽命；高低溫狀態(tài)下插拔壽命；2000-3000次
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| 資料下載 |
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