【產(chǎn)通社，9月26日訊】智原科技（Faraday Technology, TAIEX: 3035）網(wǎng)站消息，其以聯(lián)電 90奈米制程所設(shè)計(jì)之SATA 3G解決方案通過SATA-IO兼容性測試，此產(chǎn)品亦是業(yè)界首顆在此制程中通過兼容認(rèn)證的IP芯片，此外，智原也因此成為全球第二個(gè)列入SATA-IO建構(gòu)清單（SATA-IO's Building Block Listing）的IP供貨商。符合兼容性測試的SATA解決方案有助于確保交互使用性(interoperability)，并可縮短客戶產(chǎn)品的上市時(shí)間，為智原科技在高速傳輸界面立下另一里程碑。

智原科技策略長王國雍指出：“智原科技在高速輸出入接口的技術(shù)研發(fā)上，始終領(lǐng)先同業(yè)。包括先前發(fā)表的PCIe Gen II、USB 3.0以及現(xiàn)今推出的SATA等，而這些輸出入技術(shù)的相容性測試與通過相關(guān)認(rèn)證也都是我們內(nèi)部致力完成的目標(biāo)，以確�？蛻粑磥懋a(chǎn)品的交互使用性。目前符合兼容標(biāo)準(zhǔn)的90奈米PCIe-Gen II以及SATA 3G，已可對外供應(yīng)，而USB 3.0 預(yù)計(jì)將于年底推出。智原先后推出這一系列完整且具高效價(jià)比的解決方案，預(yù)計(jì)將加速推動相關(guān)應(yīng)用市場的起步與蓬勃發(fā)展�！�

智原科技研發(fā)處長曾玉光表示：“通過SATA兼容性測試一向是IP供貨商的重要目標(biāo)。智原能夠通過這項(xiàng)測試，不僅是對智原高速輸出入技術(shù)設(shè)計(jì)能力的肯定，也實(shí)現(xiàn)了我們向來對客戶提供性能優(yōu)越解決方案的承諾�！�

產(chǎn)品特點(diǎn)

從2008年開始，全球的內(nèi)接式磁盤當(dāng)中，有將近98%是采用SATA接口，已成為儲存應(yīng)用領(lǐng)域中的主流標(biāo)準(zhǔn)，也讓兼容性測試愈顯重要性。但回溯到數(shù)年前SATA 3G首次揭橥時(shí)，相容性測試的要求不但被視為過度保守、且會抑制SATA的發(fā)展。而當(dāng)線路板噪聲隨著系統(tǒng)頻率及接口帶寬不斷上升、SATA訊號電氣特性的大幅減損、以及因同步切換噪聲(Simultaneous Switching Noise，SSN)而造成timing margins縮短等狀況逐漸出現(xiàn)時(shí)，才讓業(yè)界體認(rèn)到兼容性測試的重要性，也奠定其為確保交互使用性上不可或缺的關(guān)鍵要素。

SATA-IO規(guī)范對于主要的電氣參數(shù)表現(xiàn)要求相當(dāng)嚴(yán)格，像是發(fā)射端抖動(jitter)、發(fā)射端升/降時(shí)間平衡(tx rise/fall time balance)、接收端抖動容許度 (rx jitter  tolerance)、以及回波損失(return loss)等，而其中某些參數(shù)彼此的牽制影響，使得設(shè)計(jì)更形復(fù)雜與困難。智原的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用新開發(fā)出的低抖動鎖相回路(PLL)，并同時(shí)改善時(shí)脈數(shù)據(jù)還原(clock-data recovery，CDR)電路，以突破這些設(shè)計(jì)上的難題。此外，3Gb/s的CDR使用半速架構(gòu)(half-rate architecture)與3倍超取樣相位偵測器(3x-oversampling  phase detector)，以符合SATA抖動容許屏蔽值(SATA jitter tolerance mask)。

供貨與報(bào)價(jià)

智原已可對外供應(yīng)的SATA產(chǎn)品包含：90奈米及0.13微米 SATA 1.5G/3G物理層、SATA主端控制器、SATA裝置端控制器。查詢進(jìn)一步信息，請?jiān)L問http://www.faraday-tech.com。