【產(chǎn)通社，6月6日訊】深圳市一博科技股份有限公司（Shenzhen Edadoc Technology Co.,ltd.股票代碼：301366）消息，其近日取得由國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的發(fā)明專利證書，具體情況如下：

一種測試走線DUT性能的仿真方法
發(fā) 明 人：吳均；黃剛
專 利 號：ZL201910505355.9
專利申請日：2019年06月12日
授權(quán)公告日：2023年04月07日 
授權(quán)公告號：CN110298086B
本發(fā)明公開了印制電路板測試領(lǐng)域中的一種測試走線 DUT 性能的仿真方法，僅通過精確的仿真就可以得到 DUT 的性能，無須購買昂貴的專業(yè)去嵌軟件。其與專業(yè)的去嵌軟件相比，成本得到了大幅度降低，并且本發(fā)明能夠得到高精度的仿真結(jié)果，整個(gè)仿真過程操作簡單。

一種能在PCB上快速抓取元器件Group的方法
發(fā) 明 人：吳均；黃運(yùn)堅(jiān)
專 利 號：ZL202010380823.7
專利申請日：2020年05月08日
授權(quán)公告日：2023年05月23日 
授權(quán)公告號：CN111625879B
本發(fā)明公開了一種能在印制電路板（PCB）上快速抓取元器件 Group 的方法。該方法操作步驟少，能夠極大減少人為誤操作，同時(shí)提升了檢查人員的工作效率。

傳輸線銅箔損耗的計(jì)算方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)
發(fā) 明 人：劉麗娟；吳均
專 利 號：ZL201810841001.7
專利申請日：2018年07月27日
授權(quán)公告日：2023年05月26日 
授權(quán)公告號：CN109117530B
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種傳輸線銅箔損耗的計(jì)算方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。本實(shí)施例提供的方法可以預(yù)先準(zhǔn)確計(jì)算銅箔損耗，從而降低生產(chǎn)成本和產(chǎn)品設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，縮短設(shè)計(jì)周期。

查詢進(jìn)一步信息，請?jiān)L問官方網(wǎng)站http://www.edadoc.com。（Donna Zhang，張底剪報(bào)）    （完）