吉時(shí)利(Keithley)儀器公司日前宣布推出兩款2600系列數(shù)字源表。2611和2612在吉時(shí)利去年推出的革命性源測量單元(SMU)平臺(tái)上，增加了更高的電壓和電流測量能力，極其有效地降低了大量電子元器件的測試成本。兩種新型號(hào)產(chǎn)品具備的200V和10A的量程，使其成為功能測試、硅元素及復(fù)合半導(dǎo)體器件如FET(場效應(yīng)晶體管存儲(chǔ)器)、二極管、電壓調(diào)節(jié)器、光電器件的I-V特性測試的理想選擇。與同系列中其它2600系列數(shù)字源表相比，2611和2612將現(xiàn)有最高的數(shù)據(jù)吞吐量SMU(源測量單元)技術(shù)與緊湊的可升級(jí)的波形因子相結(jié)合，從而可實(shí)現(xiàn)從1-16個(gè)SMU通道的無縫系統(tǒng)整合。
    2611和2612是專門設(shè)計(jì)用于滿足電子制造業(yè)者對(duì)自動(dòng)化系統(tǒng)的成本效益的需求，這種系統(tǒng)可以快速測試中、低管腳數(shù)的器件，或者測試一個(gè)產(chǎn)品系統(tǒng)中的組合裝置。2611只有一個(gè)通道，2612是雙通道的，多臺(tái)儀器間可通過獨(dú)特的嵌入式測試腳本處理器(TSP)和TSP-Link無縫整合在一起。這些技術(shù)可以支持用戶在全部多個(gè)通道上，編程和執(zhí)行獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)和與之關(guān)聯(lián)的通訊延遲之外的高速、自動(dòng)化測試序列，這使得測試速度比常規(guī)測試儀器快了十倍。具有雙通道和200V量程電壓源的2612也可根據(jù)需要進(jìn)行400V電壓源的操作，此時(shí)每個(gè)SMU通道可具有1.5A直流和10A脈沖式輸出。兩種新產(chǎn)品都具有新的接觸式檢查功能，此功能將被加入全部2600系列產(chǎn)品線中。這樣在進(jìn)行測試前就可以確認(rèn)測試儀器與所有被測裝置的連接是完好的，消除在高速測試應(yīng)用中出現(xiàn)的假故障。最終提供給用戶的是一個(gè)用來執(zhí)行精密直流、脈沖和低頻交流源-測量測試的ATE(自動(dòng)測試設(shè)備)系統(tǒng)和可升級(jí)的儀器平臺(tái)。
    2600系列數(shù)字源表可提供單或雙通道測量能力并且可借助新的TSP-Link技術(shù)升級(jí)為更大的自動(dòng)化測試系統(tǒng)。TSP-Link是吉時(shí)利開發(fā)的一個(gè)具有同步觸發(fā)和儀器間通信功能的總線，它可以讓一個(gè)單獨(dú)的TSP程序控制多達(dá)16個(gè)或更多個(gè)SMU單元，理論上系統(tǒng)的上限可達(dá)128通道。它專門為測試及測量類應(yīng)用所特有的小信號(hào)傳遞進(jìn)行了優(yōu)化。由于它具有非常小的網(wǎng)絡(luò)開支和每秒100Mbit數(shù)據(jù)傳輸速率的特點(diǎn)，因此在實(shí)際應(yīng)用中明顯地比GPIB和100BaseT以太網(wǎng)快。TSP-Link無需網(wǎng)絡(luò)集成或繁多的電纜即可連接多個(gè)2600測試單元，將其無縫集成為一個(gè)系統(tǒng)。對(duì)這些連接在一起的單元可以像對(duì)單個(gè)獨(dú)立的ATE系統(tǒng)一樣進(jìn)行編程和控制。TSP-Link給用戶帶來了擴(kuò)展性方面的極大優(yōu)勢，同時(shí)又不浪費(fèi)機(jī)架空間和增加主機(jī)系統(tǒng)，也不增加額外成本。
了解更多關(guān)于吉時(shí)利2600系列系統(tǒng)數(shù)字源表的產(chǎn)品信息，請(qǐng)?jiān)L問http://www.keithley.com.cn。    （完）