【產(chǎn)通社，11月2日訊】安世半導(dǎo)體（Nexperia；原恩智浦標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品事業(yè)部）官網(wǎng)消息，靜電放電（ESD）和電磁干擾（EMI）是面臨的主要設(shè)計挑戰(zhàn)，特別是涉及易受靜電放電（ESD）損害的現(xiàn)代高速和超高速接口的情況下。然而，在不影響系統(tǒng)性能的情況下，還同時兼顧ESD保護和EMI濾波則使設(shè)計變得更加復(fù)雜。在充分了解防止快速高壓浪涌或較低極端電壓電平的較長脈沖挑戰(zhàn)之后，設(shè)計人員可以從一開始就采用最有效的ESD拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
 
本ESD應(yīng)用手冊提供了有關(guān)ESD原因、故障癥狀以及確保設(shè)計獲得充分保護的必要步驟等重要信息，甚至考慮了最靈敏接口的情形。它借鑒了Nexperia在該技術(shù)領(lǐng)域的廣泛知識經(jīng)驗，包括我們在測試設(shè)計和故障分析方面所做的工作。還介紹了科學(xué)的ESD保護器件選擇過程，解決了耗時且不一定能找到最佳解決方案的試錯測試問題。



ESD設(shè)計工程師指南目錄如下：
- ESD保護器件的數(shù)據(jù)手冊參數(shù)；
- ESD測試標(biāo)準(zhǔn)和TLP測試；
- ESD保護原理；
- SEED（高效的系統(tǒng)級ESD設(shè)計）；
- 利用共模濾波器實現(xiàn)EMI濾波；
- 因ESD和浪涌事件造成的故障癥狀；
- 接口和應(yīng)用。

ESD設(shè)計工程師指南提供紙質(zhì)版，更好地了解ESD保護拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和故障癥狀，以及現(xiàn)代接口的測試和仿真。

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