【產(chǎn)通社，8月10日訊】日本電子株式會社(JEOL Ltd.；TOKYO股票代碼：6951)消息，其新型肖特基(Schottky)場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-F100,可應(yīng)用于不同的領(lǐng)域：納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等。


產(chǎn)品特點


隨著應(yīng)用范圍的擴大，SEM用戶需要快速、高質(zhì)量的數(shù)據(jù)采集及簡單的組成信息確認和無縫操作。JSM-F100搭載浸沒式(In-lens)肖特基Plus場發(fā)射電子槍和Neo Engine（電子光學(xué)控制系統(tǒng)），以及全新的GUI SEM Center和創(chuàng)新的“實時圖像視覺增強器-人工智能(LIVE-AI)濾鏡”，實現(xiàn)了高空間分辨率成像和可操作性的最優(yōu)組合。

此外，標配的JEOL能量色散型X射線光譜儀(EDS)完全整合于SEM Center內(nèi)，可實現(xiàn)從圖像到元素分析結(jié)果的無縫采集。JSM-F100提供卓越的工作效率，高出我們之前的JSM-7000系列50%或以上，實現(xiàn)了生產(chǎn)量的顯著提高。 


供貨與報價


查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html。（Jack Zhang，產(chǎn)通互聯(lián)網(wǎng)）    （完）