【產(chǎn)通社，11月30日訊】牛津儀器（Oxford Instruments）官網(wǎng)消息，1986年至今，原子力顯微鏡技術(shù)已經(jīng)過30年的發(fā)展。30年間，AFM的功能也從最初的表面形貌測量發(fā)展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術(shù)的進步，如今第三代原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
 
牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學(xué)和四川大學(xué)分別舉行“原子力顯微鏡技術(shù)最新進展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術(shù)進展和納米電學(xué)性能表征測試等議題進行分享，現(xiàn)場演示超高分辨率，具有快速掃描能力的Cypher AFM。

“原子力顯微鏡技術(shù)最新進展研討會”南京大學(xué)站
時間：2016年11月22日
地點：南京大學(xué)仙林校區(qū)（仙林大道163號南京大學(xué)電子科學(xué)與工程系）

“原子力顯微鏡技術(shù)最新進展研討會”四川大學(xué)站
時間：2016年11月23日
地點：四川大學(xué)望江校區(qū)（成都市一環(huán)路南一段24號紅瓦寺街北苑賓館三樓茶坊大會議室）

查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.oxford-instruments.cn/asylumresearch。    （完）