為全球半導(dǎo)體工業(yè)提供從設(shè)計到生產(chǎn)測試解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商——科利登系統(tǒng)有限公司（Credence Systems Corporation，納斯達克代碼：CMOS）7月17日推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強化了科利登市場領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。

Sapphire D-6432DFT設(shè)備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設(shè)計（DFT）方法，助其顯著降低高速半導(dǎo)體器件的總體成本并縮短上市時間。

這一新設(shè)備是與領(lǐng)先的微處理器生產(chǎn)廠商AMD公司合作開發(fā)的。目前，AMD的工程師正采用Sapphire平臺和D-6432DFT加速其最先進產(chǎn)品的測試和上市周期。在全球數(shù)以百計的Sapphire平臺裝機量中，已有200多個D-6432DFT設(shè)備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺中，進行生產(chǎn)測試。

AMD公司自動測試設(shè)備（ATE）技術(shù)經(jīng)理兼高級技術(shù)工程師Pete Hodakievic表示：“市場對高速總線接口測試和快速數(shù)據(jù)傳輸率提出了越來越高的要求，迫切需要一種比簡易承載板環(huán)路測試技術(shù)更為強勁的測試方法。同時，我們又因為需要控制測試成本，而無法采用傳統(tǒng)的測試設(shè)備和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我們用單次插入即可完成對最先進的微處理器芯片進行高速環(huán)路測試、DC參數(shù)測試，以及掃描和功能測試。相比全功能測試，D-6432DFT不僅有更好的測試覆蓋，還可以顯著降低測試成本�！�

為了實現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來越多的應(yīng)用。然而，高速總線對傳統(tǒng)“功能”測試方法的成本、復(fù)雜性和周期都提出了挑戰(zhàn)。這些不確定因素在低速測試時能運作無誤，但速度高于6Gbps以上時，則有可能產(chǎn)生風(fēng)險。目前的“近端”環(huán)路（即利用設(shè)備來輸出測試數(shù)據(jù)，再回收數(shù)據(jù)至設(shè)備以進行識別）技術(shù)簡單、性價比高，但難以有效地處理抖動、信號變異和協(xié)議性能，從而導(dǎo)致測試不完全或測試死角。集成電路制造商需要采用可測性設(shè)計方法，才能對那些影響設(shè)備和系統(tǒng)性能的關(guān)鍵變量進行靈活、全面的測試。

Sapphire D-6432DFT有效地應(yīng)用了創(chuàng)新的遠端環(huán)路技術(shù)，既具有可測性設(shè)計的靈活性，又有功能測試所具備的深層診斷能力。通過將待測器件置于高性價比的智能測試設(shè)備通道中，延長了反饋路徑，也首次實現(xiàn)了高速總線在生產(chǎn)級的測試。與以往那種投資多臺設(shè)備測試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺設(shè)備上測試多達16個通道。

Sapphire D-6432DFT設(shè)備現(xiàn)已投放市場。在7月17-18日舉辦的Semicon West展會期間, 科利登技術(shù)中心展出了Sapphire D-6432DFT設(shè)備，還現(xiàn)場展示了科利登完整的測試解決方案，包括曾經(jīng)獲獎的Sapphire平臺和Diamond平臺。了解更多，請訪問http://www.credence.com