您是否正在為最新的SATA物理層設(shè)計和調(diào)試尋找完善的測試套件？泰克現(xiàn)在為SATA Gen 1和Gen 2標(biāo)準(zhǔn)提供了完整的實現(xiàn)方法(MOI)，為串行ATA 3.0提供了第一個測試指南。
泰克SATA Gen 3物理層測試的關(guān)鍵組件包括： （1）AWG7000B任意波形發(fā)生器系列，以獨特的方式與復(fù)雜的狀態(tài)機交互，對6Gb/s主機和磁盤進(jìn)行鏈路狀態(tài)訓(xùn)練。 （2）DSA/DPO70000示波器系列，市場上唯一能夠在五次諧波或以上采集6Gb/s發(fā)射信號的多通道示波器，為苛刻的一致性測試和調(diào)試測試提供了更大的余量和保真度。
